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teclock 株式会社“测量DX”®是一种测量数字化转型,通过将制造中的“测量”数字化并将累积的数据分析结果反馈到生产现场,可以显着提高产品和零件的QCD(质量,成本,交付)。“测量”的数字化不仅可以实现无纸化,还可以减少工时和积累数据。 ..联系人:钟先生 186-8849-6582在分析和利用累积数据时,不仅可以通过可视化,还可以使用基于高速搜索和SPC(统计)分析的AI来执行对生产

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teclock 株式会社


“测量DX”®是一种测量数字化转型,通过将制造中的“
测量”数字化并将累积的数据分析结果反馈到生产现场,
可以显着提高产品和零件的QCD(质量,成本,交付)。
“测量”的数字化不仅可以实现无纸化,还可以减少工时
和积累数据。
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联系人:钟先生 186-8849-6582

在分析和利用累积数据时,不仅可以通过
可视化,还可以使用基于高速搜索和SPC(统计)分析的
AI来执行对生产现场的反馈。 上述生产过程中的PDCA循
环在质量改进,降低成本和缩短交货时间方面显着提高了
QCD。 TECLOCK的“测量DX”支持生产现场的对策和效率
提高。
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.金属工作自不必说,可以在镜头、库姆、塑料、纸等的厚度测量中使用。
测量范围(mm)20目量(mm)0.01测量力(N)3.5以下业务品号1000-0035种别盘材质测量子,安大厦:陶瓷质量(g)200测量深度(mm)26目盛规格0-50-100安大厦形状(mm)Φ10平测量子形状(mm)Φ10平差入深(mm)30平行度(µm)5精度(µm)±20
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数字化和分析测量数据 可根据使用环境和要求选择三种
产品阵容


智能传感器
千分表
杠杆测试
疾病测量仪
深度计
千分尺
测径器
卡利页面
气缸规
高度计
其他精密测量仪器

硬度计
智能测试仪


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