日本 TEAC 晶体生长负载计 TT-XNⅡ TT-XNⅡ(G) 负载传感器
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公司主营FA自动化、材料、机械设备、精密仪器、工具等产品。客户群体有汽车、新能源、半导体、医药、食品等领域
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.晶体生长负载计是一种负载传感器，用于控制生长单晶的直径，并将重量转换为电信号。 晶体生长负载计由负载灵敏度部分（称重传感器）、放大单元（放大器）、将旋转信号传输到外部的滑环以及容纳它们的容器组成。
特点
比以往更多的过载保护
也可以制作能够测量大口径锭提拉时种子触摸的微小负荷的两级式（二输出）型
※一级式（一个输出）型。
差分输出，抗噪声
负载灵敏度部分使用非线性、滞后和可重复性为 0.02% R.O. 的高性能、高分辨率称重传感器
温度特性非常稳定，为 0.03% R.O./10°C（零点变化 + 灵敏度变化）
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